头戴耳机按键寿命试验机

        头戴耳机按键寿命试验机
型号：MK-9635K
设备简介：
   头戴耳机按键寿命试验机用于头戴耳机按键寿命测试。本机采用砝码重力往复打击模拟人对按键来回按压试验。

技术参数：
   1、测试工位：四组
2、按压荷重砝码：50g、100g、200g、300g、500g各四个
    3、试验次数计数器：0-99999999次（可预置，LCD显示）
　  4、试验速度：5-60次/分（旋钮可调，LCD显示）
    5、测试行程：15mm
    7、固定治具：耳机**固定治具四组
    8、打击头：塑胶打击头
    9、外形尺寸（L×W×H）：500×400×700mm
   10、机台重量：45kg
   11、工作电源：AC220V、50HZ
设备特点：
  1、箱体采用静电烤漆处理，整机设计合理结构紧固，运行稳定、安全、准确；
  2、根据各类头戴耳机按键产品测试制造，试验夹具、行程可调，应用广泛；
  3、四组工位同时工作，大大提高测试效率；
  4、试验速度、次数，人性化设计，操作方便快捷。