头戴耳机按键寿命试验机 型号:MK-9635K 设备简介: 头戴耳机按键寿命试验机用于头戴耳机按键寿命测试。本机采用砝码重力往复打击模拟人对按键来回按压试验。 技术参数: 1、测试工位:四组 2、按压荷重砝码:50g、100g、200g、300g、500g各四个 3、试验次数计数器:0-99999999次(可预置,LCD显示) 4、试验速度:5-60次/分(旋钮可调,LCD显示) 5、测试行程:15mm 7、固定治具:耳机**固定治具四组 8、打击头:塑胶打击头 9、外形尺寸(L×W×H):500×400×700mm 10、机台重量:45kg 11、工作电源:AC220V、50HZ 设备特点: 1、箱体采用静电烤漆处理,整机设计合理结构紧固,运行稳定、安全、准确; 2、根据各类头戴耳机按键产品测试制造,试验夹具、行程可调,应用广泛; 3、四组工位同时工作,大大提高测试效率; 4、试验速度、次数,人性化设计,操作方便快捷。